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       在電子元器件中，我們知道安規(guī)電容主要有X安規(guī)電容和Y安規(guī)電容，X電容一般用在零線與火線（L-N）之間的電容；Y電容是別離跨接在電力線兩線和地之間（L-E，N-E）的電容，一般是成對(duì)呈現(xiàn)。那么常見(jiàn)的x2安規(guī)電容測(cè)試有哪些呢？下面我們來(lái)看看：
1.耐電壓測(cè)試
耐壓測(cè)試在產(chǎn)品的電源端與地端電路上，施以一高壓并量測(cè)其崩潰狀態(tài)。耐電壓測(cè)試的實(shí)質(zhì)是在被測(cè)產(chǎn)品電氣上本不連接的兩部分間施加一段時(shí)間的同頻高壓，以檢驗(yàn)有無(wú)絕緣崩潰。
2.接地保護(hù)測(cè)試
檢測(cè)可接觸之金屬機(jī)構(gòu)等部位是否有確實(shí)接地。以此測(cè)試，可檢測(cè)出接地點(diǎn)螺絲未鎖緊、接地線徑太小、 接地線斷路等問(wèn)題。
3.絕緣電阻測(cè)試
絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐電耐壓測(cè)試 ，而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐電壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。
4.漏電流測(cè)試
量測(cè)時(shí)須使用人體仿真線路MD，并聯(lián)電壓表，其MD依不同的產(chǎn)品安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)有不同的人體仿真線路，而測(cè)試電壓為*不利的輸入電壓，一般為額定電壓上限為測(cè)試電壓。